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MPI推出獨特用于1/f雜訊和RTN量測的NoiseShield(TM)解決方案

2019-11-08 11:53 6892
MPI 推出了一款新的 NoiseShield? 產(chǎn)品,選配此產(chǎn)品可提供卓越的 EMI 屏蔽功能、低接地阻抗和最短的電纜長度,來減少寄生電容可大幅將測試系統(tǒng)的 roll-off 頻率最大化 。

 

新竹201911月8 /美通社/ -- MPI推出了一款新的 NoiseShield?產(chǎn)品,選配此產(chǎn)品可提供卓越的 EMI 屏蔽功能、低接地阻抗和最短的電纜長度,來減少寄生電容可大幅將測試系統(tǒng)的 roll-off 頻率最大化。透過此選配可減少外部磁場對量測結(jié)果的影響,并使1/f RTN雜訊量測更加安定,不受放置場所的影響。此外,它還使探針臺所造成的影響“隱形”,使量測結(jié)果達到測試儀器的測試值極限。

MPI的NoiseShield產(chǎn)品經(jīng)過專門設(shè)計,可通過降低測試成本來提供高客戶價值。它與MPI ShielDEnvironment?配合使用,為DUT、測量儀器(如前置放大器)、所有電纜和連接器提供無與倫比的EMI屏蔽功能。NoiseShield?解決方案可通過縮短電纜長度來減少寄生電容,以最大限度地提高測試系統(tǒng)的衰減頻率。該解決方案還可減少外部磁場對測量結(jié)果的影響。
MPI的NoiseShield產(chǎn)品經(jīng)過專門設(shè)計,可通過降低測試成本來提供高客戶價值。它與MPI ShielDEnvironment?配合使用,為DUT、測量儀器(如前置放大器)、所有電纜和連接器提供無與倫比的EMI屏蔽功能。NoiseShield?解決方案可通過縮短電纜長度來減少寄生電容,以最大限度地提高測試系統(tǒng)的衰減頻率。該解決方案還可減少外部磁場對測量結(jié)果的影響。

MPI 先進半導(dǎo)體測試事業(yè)部元件建模總監(jiān) Toe Naing Swe 表示:“MPI NoiseShield?是提供1/f 量測高價值解決方案的下一步。結(jié)合使用 MPI ShielDEnvironment?,使用者可以體驗待測物 (DUT) 和測量儀器(如 ProPlus 9812DX 的前置放大器)、所有電纜和連接器的優(yōu)越 EMI 屏蔽功能。這種完全整合的解決方案透過將低雜訊放大器 (LNA) 置于非??拷?/span> DUT 的位置,以縮短電纜的長度。透過配備 MPI WaferWallet® 模塊的 TS3500-SE全自動探針臺,使用者可以 on-wafer 進行完全自動化的1/f 雜訊量測。MPI SENTIO® 軟體套件提供 ProPlus Design Solutions 產(chǎn)品所需的驅(qū)動程式,如 BSIMProPlus?NoiseProPlus?,使自動化測試系統(tǒng)的組成更為容易?!?/span>

ProPlus Design Solutions Inc 首席執(zhí)行長兼聯(lián)合創(chuàng)始人劉志宏博士說:“MPI 探針臺功能卓越,是我使用過數(shù)一數(shù)二的探針臺。在雜訊量測方面,它擁有優(yōu)秀屏蔽功能并大幅減少寄生電容。憑借這款產(chǎn)品,我們能夠在不降低系統(tǒng)性能的前提下發(fā)揮系統(tǒng)的極限。利用9812DX 中的高精度 LNA,我們能夠以大于20KHz 的頻寬獲得3e-27 A^2/Hz noise floor,同時可以精確地監(jiān)測到 pA 等級的偏低電流。低頻測量上可到0.1Hz,而不受機械振動的影響。藉由 MPI 探針臺,我們對金氧半場效電晶體 (MOSFET) 量測到10MHz,雜訊準(zhǔn)位達到了我們的寬頻 LNA noise floor?!?/span>

消息來源:MPI Corporation
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