同方威視與清華大學共同申請的毫米波專利獲北京市發(fā)明專利獎二等獎

北京2021年4月23日 /美通社/ -- 2021年4月20日，京津冀促進知識產(chǎn)權運用工作會暨北京市發(fā)明專利獎頒獎大會在京舉行。同方威視與清華大學共同申請的專利“電磁波成像系統(tǒng)及天線陣列信號校正方法”獲本屆北京市發(fā)明專利獎二等獎。

本獲獎專利“電磁波成像系統(tǒng)及天線陣列信號校正方法”提出了一種新的電磁波成像系統(tǒng)，可實現(xiàn)對目標物體的精確高分辨成像。應用本專利的同方威視毫米波人體安檢儀具有非接觸、高效舒適、精準報警等特點，可自動探測出藏匿于體表的金屬或非金屬嫌疑物，檢出率、誤報率等關鍵技術指標居國際領先水平，解決了我國人身安檢技術面臨的“卡脖子”問題。

目前，同方威視毫米波人體安檢儀已通過中國民用航空局A級（最高級）許可認證和歐洲民航會議（ECAC）SSc A類標準2.1（最高級）測試，廣泛應用于全球民航、海關、監(jiān)獄及重大賽事活動等行業(yè)領域，為機場安檢、出入境檢查等場景提供快速、精準、舒適的人體安檢服務。

北京市發(fā)明專利獎是北京市政府設立的重要獎項，設置該獎項的目的是發(fā)揮政府主導作用，鼓勵創(chuàng)新主體的創(chuàng)新成果及時取得專利權，提高發(fā)明專利質量。第六屆北京市發(fā)明專利獎共評選出獲獎項目36項，其中特等獎1項、一等獎5項、二等獎10項、三等獎20項。

截至目前，同方威視累計獲得北京市發(fā)明專利特等獎1項，北京市發(fā)明專利一等獎2項，北京市發(fā)明專利二等獎1項。